集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能的新型納米檢測顯微鏡，可以實現(xiàn)從50倍到100萬次的超寬范圍的觀察和測量，以及一種新型的在不失去鎖定的情況下實現(xiàn)納米級觀察目的是縮短從放置樣品到獲取圖像的工作時間。多合一模型，因此無需重新放置樣品，只要在一個設備上打開放大和觀察方法，它就可以靈活地響應新樣品。下面幾個方面來說說它的強大功能。
 

　　1、原子分辨率和穩(wěn)定性。

　　2、大的樣品腔設計，適應性強。

　　3、主控制系統(tǒng)采用德州儀器（TI）32位高性能數(shù)字信號處理器（DSP）。

　　4、高壓掃描驅(qū)動器采用APEX集成高壓運算放大器。

　　5、主控制系統(tǒng)具有內(nèi)置的實時操作系統(tǒng)。

　　6、系統(tǒng)使用FastEthernet連接到計算機。

　　納米檢測顯微鏡檢測過程可以立即獲得更直觀的外觀和豐富的細節(jié)，同時進行多通道信號采集和顯示，一次掃描即可同時獲得各種特性和樣本特征具有導出圖像和曲線數(shù)據(jù)的樂趣因此，可以獲得所有原始數(shù)據(jù)探針表征和圖像重建功能（針尖形貌估計/圖像重建/使用已知探針的圖像重建）。

　　1、全自動插入針頭，無需手動粗調(diào)。

　　2、只需更換探頭支架，即可在STM和AFM等不同類型的儀器之間進行切換。

　　3、全數(shù)字控制，智能識別和控制參數(shù)，例如儀器類型和系統(tǒng)狀態(tài)。

　　4、軟件控制的樣品移動。

　　5、納米檢測顯微鏡同時保存所有當前工作環(huán)境參數(shù)和掃描圖像。

　　6、樣品粒徑和粗糙度自動分析功能，與國家和標準相關的全套參數(shù)可用。